Zdjęcie
Sygnatura:
TARAN_4255
26.05.1979, Warszawa, Polska.
Odbicie zarysu wieżowca LOT-u w szklanej elewacji wieżowca Intraco II.
Fot. Jarosław Tarań, zbiory Ośrodka KARTA [79-17]
Odbicie zarysu wieżowca LOT-u w szklanej elewacji wieżowca Intraco II.
Fot. Jarosław Tarań, zbiory Ośrodka KARTA [79-17]
Słowa kluczowe